三星14nm工艺移动芯片测试成功 功耗将改善

手机 驱动中国 itcom 5,901 次阅读 0 条评论
分享 Q

三星14nm工艺移动芯片测试成功,该芯片会大大改善SoC芯片的漏电率和动态功耗。近日,三星方面宣布其与ARM签署了一项与14nm FinFET工艺技术和IP库相关的合作协议,并且还成功研发了一些基于14nm FinFET工艺的测试处理器芯片。不仅如此,三星还与合作伙伴共同完成了ARM Cortex-A7处理器、ARM big.LITTLE配置和SRAM芯片的研发测试工作。

三星14nm工艺移动芯片测试成功

三星称相比目前的32/28nm HKMG工艺,14nm FinFET工艺会进一步大大改善SoC芯片的漏电率和动态功耗,是未来发展的方向。我们可以这样理解,三星方面会在之后的处理器中采用ARM big.LITTLE处理技术和14nm工艺制程,这意味着三星未来的处理器将更加高效。

为了方便客户,三星还发布了工艺设计包PDK,允许他们开始基于14nm FinFET测试芯片设计模型或者展开其他产品设计工作。我们不怀疑三星在处理器方面的造诣,并希望它能给手机用户带来更便捷的操作体验!

版权声明:本文由驱动中国整理发布,转载需注明出处与原文链接。如有疑问请联系 editor@qudong.com
本文价值 成为第一个评分的人
登录后为本文打分
网友评论0 条评论
正在回复 的评论取消
评论加载中…
🔐

登录后参与互动

评论、点赞均可赚积分
连续签到、邀请好友也有奖励 🎁

电脑端: 微信扫码登录 微信内: 一键登录

微信扫一扫

打开微信「扫一扫」,分享本文到朋友圈或好友